В 1900 году американский химик Уиллис Р. Уитни создал в компании General Electric (GE) первую в США промышленную научно-исследовательскую лабораторию (GERL), Скенектади, Нью-Йорк. Изобретения, усовершенствования, новые процессы и новые знания, которые были получены и разработаны в исследовательской лаборатории не только в области радиоэлектроники, но и других направлениях, стали неоценимым достоянием как для компании, так и для общества. Это позволило GE стать крупнейшей американской корпорацией, а также самой диверсифицированной корпораций в мире. Уитни стал известен как «отец фундаментальных исследований в промышленности». Его организация научных исследований стала моделью для промышленных научных лабораторий в других частях США.
компания General Electric, Уиллис Р. Уитни, промышленная научно-исследовательская лаборатория, Скенектади, стиль руководства, творческая атмосфера, подбор кадров
1. Buderi Robert. Engines of tomorrow : How The World’s Best Companies Are Using Their Research Labs to Win the Future. Simon & Schuster, 2000. 448 p.
2. General Electric Metallized. Очерки по истории изобретений. Блог Александра Мицкевичюса об изобретениях, изменивших мир. URL: https://top100invent.blogspot.com/2014/06/general-electric-metallized.html (10.12.2019).
3. Whitney, Willis Rodney (1887-1958), URL: https://www.harvardsquarelibrary.org/biographies/willis-rodney-whitney-2/ (07.05.2019).
4. Harvard Square Library. Whitney, Willis Rodney (1887-1958). URL: https://www.harvardsquarelibrary.org/biographies/willis-rodney-whitney-2/. (07.05.2019).
5. Suits Guy. Willis Rodney Whitney 1868-1958. Biographical Memoir. Washington D. C. National Academy of Sciences, 1960. 19 p.
6. Edison Tech Center. General Electric Research Lab. URL: https://edisontechcenter.org/GEresearchLab.html. (07.05.2019).
7. Edison Tech Center. The accomplishments and life of engineering pioneer C. W. Rice, 1888-1951. URL: https://edisontechcenter.org/CWrice.html (07.05.2019).
8. Brittain James E. Electrical Engineering Hall of Fame Willis R. Whitney // Proceedings of the IEEE, 2007. Vol. 95, No. 12. Pp. 2472-2476.
