Симферополь, Республика Крым, Россия
Симферополь, Республика Крым, Россия
Симферополь, Республика Крым, Россия
Симферополь, Республика Крым, Россия
В работе рассматривается конструкция коаксиального резонансного измерительного преобразователя с укорачивающей емкостью, применяемого для определения электрофизических параметров составных элементов археологических объектов. На основании численной модели определены оптимальные геометрические размеры резонансного датчика. Проведен анализ основных характеристик измерительного преобразователя. Получен ряд экспериментальных данных, подтверждающих применимость предложенной методики.
археологический объект, СВЧ резонатор, резонансный измерительный преобразователь, апертура, характеристика преобразования
1. Мыц В. Л. Отчет об охранных раскопках Горно-Крымской экспедиции ИА АН УССР в 1984 г. ФГБУН «Институт археологии Крыма РАН». Д № 1984/76.
2. Щепинский А. А. Археологическое обследование Курцово-Сабловской долины в 1950 г. ИАДК, 1957. С. 307-327.
3. Гордиенко Ю. Е. СВЧ диагностика слоистых полупроводниковых материалов : дис. ... докт. физ.-мат. наук : 01.04.03. Харьков : ХИРЭ, 1984. 397 с.
4. Егоров В. Н. Резонансные методы исследования диэлектриков на СВЧ // Приборы и техника эксперимента. 2007. № 2. С. 5-38.
5. Microwave Electronics Measurement and Materials Characterization / L. Chen et al. New York : John Wiley & Sons, 2004. 537 p.
6. Детинко М. В. Физические основы неразрушающего СВЧ-резонаторного метода локального контроля электрофизических параметров полупроводников. Томск : Изд-во Томского ун-та, 1988. 30 с.
7. Завьялов А. С. Измерение параметров материалов на сверхвысоких частотах. Томск : Изд-во ТГУ, 1985. 213 с.
8. Брандт А. А. Исследование диэлектриков на сверхвысоких частотах. М. : Физматиздат, 1963. 404 с.
9. Гершензон Е. М. Методы определения параметров полупроводников и полупроводниковых пленок на СВЧ // Полупроводниковые приборы и их применение. 1970. Вып. 23. С. 3-48.
10. Гордиенко Ю. Е. Резонаторные измерительные преобразователи в диагностике микрослоистых структур // Радиотехника. Всеукр. межвед. науч.-техн. сб. 1996. Вып. 100. С. 253-260.
11. Рябухин А. А. Электродинамические модели резонаторных сенсоров в СВЧ диагностике полупроводников : дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.03. Харьков : ХНУРЭ, 2002. 158 с.
12. Гордиенко Ю. Е. Измерительные преобразователи для неразрушающего контроля электропроводности пленок в эпитаксиальных структурах nn+ типа // Электронная техника. Серия 8. 1974. Вып. 9. С. 112-117.
13. Hong S. Improved surface imaging with a near-field scanning microwave microscope using a tunable resonator // Applied Physics Letters. 2002. Vol. 80, no. 3. P. 524-526.
14. Медведев Ю. В. Техника неразрушающего измерения удельного сопротивления, толщины и времени жизни неосновных носителей заряда по площади эпитаксиальных пленок // Электронная техника. Сер. 1. Электроника СВЧ. 1984. № 10. С. 50-54.
15. Imtiaz A. Effect of tip geometry on contrast and spatial resolution of the near-field microwave microscope // Journal of applied physics. 2006. Vol. 100. P. 1-8.
16. Гордиенко Ю. Е. Вклад колебательных и излучательных потерь в характеристики СВЧ преобразователей с коаксиальной измерительной апертурой // Радиотехника. 2009. № 157. С. 108-114.
17. Кураев А. А. Электродинамика и распространение радиоволн. Минск : 2004. 358 с.
18. Григорьев А. Д. Электродинамика и техника СВЧ. М. : 1990. 335 с.
